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宇航志達(dá)芯片半導(dǎo)體測試高低溫沖擊試驗(yàn)箱構(gòu)造美觀,高效安全,用途廣泛高低溫試驗(yàn)箱是航空,汽車,家電,科研等領(lǐng)域的測試設(shè)備,用于測試和確定電工,電子及其他產(chǎn)品及材料進(jìn)行高溫,低溫,或恒定試驗(yàn)的溫度環(huán)境變化后的參數(shù)及性能。

宇航志達(dá)芯片半導(dǎo)體測試高低溫沖擊試驗(yàn)箱

技術(shù)參數(shù)：

1、型號：Y-HU-150G

2、內(nèi)箱尺寸：寬400×高500×深400mm

3、外形尺寸：寬650×高1550×深1010mm

4、溫度范圍：低溫-70℃～高溫150℃

5、濕度范圍：標(biāo)準(zhǔn)型（20%～98%RH）

6、溫度解析度：0.01℃

7、溫度波動度：≤±0.5℃

8、濕度波動度：≤±2.0%RH

9、溫度均勻度：±2.0℃

10、濕度偏差：75%R.H以下±5.0%RH、75%R.H以上+2.0/-3.0%RH

11、升溫速率：約1.0℃～3.0℃/min

12、降溫速率：約0.8℃～1.3℃/min

13、電源要求：AC220V/50H